1.微處理器集成電路的檢測
  微處理器集成電路的關(guān)鍵測試引腳是VDD電源端、RESET復(fù)位端、XIN 晶振信號輸入端、XOUT晶振信號輸出端及其他各線輸入、輸出端。在路測量這些關(guān)鍵腳對地的電阻值和電壓值，看是否與正常值(可從產(chǎn)品電路圖或有關(guān)維修資 料中查出)相同。不同型號微處理器的RESET復(fù)位電壓也不相同，有的是低電平復(fù)位，即在開機瞬間為低電平，復(fù)位后維持高電平；有的是高電平復(fù)位，即在開 關(guān)瞬間為高電平，復(fù)位后維持低電平。
2.開關(guān)電源集成電路的檢測 
  開關(guān)電源集成電路的關(guān)鍵腳電壓是電源端(VCC)、激勵脈沖輸出端、電壓檢測輸入端、電流檢測輸入端。測量各引腳對地的電壓值和電阻值，若與正常值相差較大，在其外圍元器件正常的情況下，可以確定是該集成電路已損壞。內(nèi)置大功率開關(guān)管的厚膜集成電路，還可通過測量開關(guān)管C、B、E極之間的正、反向電阻值，來判斷開關(guān)管是否正常。
3.運算放大器集成電路的檢測
  用萬用表直流電壓檔，測量運算放大器輸出端與負(fù)電源端之間的電壓值(在靜態(tài)時電壓值較高)。用手持金屬鑷子依次點觸運算放大器的兩個輸入端(加入干擾信號)，若萬用表表針有較大幅度的擺動，則說明該運算放大器完好；若萬用表表針不動，則說明運算放大器已損壞。
4.時基集成電路的檢測
  時基集成電路內(nèi)含數(shù)字電路和模擬電路，用萬用表很難直接測出其好壞。測試電路由阻容元件、發(fā)光二極管LED、6V直流電源、電源開關(guān)S和8腳IC插座組成。將時基集 成電路(例如NE555)插信IC插座后，按下電源開關(guān)S，若被測時基集成電路正常，則發(fā)光二極管LED將閃爍發(fā)光；若LED不亮或一直亮，則說明被測時基集成電路性能不良。